差示掃描量熱法
歷史
1962年E.S.沃森和M.J.奧尼爾發(fā)明了差示掃描量熱法在1963年的匹茲堡分析化學(xué)和應(yīng)用光譜學(xué)會(huì)議上介紹給商業(yè)界。1964年第一臺(tái)可以用于生物化學(xué)研究的差示掃描量熱法機(jī)器被發(fā)展出來(lái)近年來(lái)出現(xiàn)了調(diào)制差示掃描量熱法(Modulated DSC),其改進(jìn)為在傳統(tǒng)的線性加熱方式上疊加了正弦振蕩加熱方式,同時(shí)提高了分辨率和靈敏度。
原理與DSC曲線
環(huán)氧樹脂交聯(lián)的DSC曲線,可見交聯(lián)起始溫度大概是145度,172.5度時(shí)熱流速率最大
差示掃描量熱法的基本原理是當(dāng)樣品發(fā)生相變、玻璃化轉(zhuǎn)變和化學(xué)反應(yīng)時(shí),會(huì)吸收和釋放熱量,補(bǔ)償器就可以測(cè)量出如何增加或減少熱流才能保持樣品和參照物溫度一致。以聚合物為例,典型的反應(yīng)有以下幾種:
沒有相變和其他反應(yīng):此時(shí)要保持樣品和參比物溫度一致,只需要克服兩者之間的比熱區(qū)別即可,此時(shí)顯示出DSC的基線。為了保證基線平坦,參比物應(yīng)該是在實(shí)驗(yàn)溫度范圍內(nèi)不發(fā)生化學(xué)變化,且具有基本不變的比熱的物質(zhì)。
玻璃化轉(zhuǎn)變:聚合物達(dá)到玻璃化轉(zhuǎn)變溫度時(shí),熱容增大,需要吸收更多熱量來(lái)保持溫度一致,因此常表現(xiàn)為DSC基線的轉(zhuǎn)折。
結(jié)晶:有些經(jīng)過過冷處理形成的非晶態(tài)聚合物加熱時(shí)會(huì)開始結(jié)晶,放出結(jié)晶熱,DSC測(cè)量到必須減少熱流才能保持樣品和參照物溫度一致,在DSC曲線上就出現(xiàn)了一個(gè)放熱峰。
熔融:隨著溫度進(jìn)一步升高,結(jié)晶的部分開始熔融,補(bǔ)償器測(cè)量出必須增加熱流克服熔融所需的相變焓才能保持溫度一致,于是在DSC曲線上就會(huì)出現(xiàn)吸熱峰。
氧化和交聯(lián):有的聚合物在溫度較高時(shí)會(huì)發(fā)生氧化和交聯(lián)反應(yīng),DSC曲線出現(xiàn)放熱峰。
分解:溫度足夠高之后,聚合物鏈會(huì)斷裂,產(chǎn)生吸熱峰。
差示掃描量熱法曲線的橫軸是溫度或者時(shí)間,縱軸是樣品吸熱和放熱的速率,也被稱為熱流速率。峰面積可以通過下面的公式(Speil)來(lái)計(jì)算相變焓:
Δ Δ -->H=KA{\displaystyle \Delta H=KA}
這里的Δ Δ -->H{\displaystyle \Delta H}是相變焓,K{\displaystyle K}是量熱法常數(shù),A{\displaystyle A}是峰的面積。不同的儀器有不同的量熱法參數(shù),可以通過標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)定儀器的量熱法常數(shù)。DSC可以使用低熔點(diǎn)金屬銦進(jìn)行校正。
應(yīng)用
差示掃描量熱計(jì)
液晶
掃描量熱法也應(yīng)用在研究液晶上,隨著溫度升高,具有液晶性質(zhì)的物質(zhì)會(huì)從固態(tài)起經(jīng)歷一系列的相態(tài)轉(zhuǎn)化為各向同性的液態(tài)。對(duì)于高精密度的掃描量熱法,可以測(cè)量出其中每個(gè)相變的相變焓,結(jié)合相態(tài)的觀察可以研究這一系列的相變。
氧化穩(wěn)定性
差示掃描量熱法可以用于測(cè)試樣品的氧化穩(wěn)定性,一般先將樣品放入氣密性的樣品腔中,通入惰性氣體比如氮?dú)?,然后加熱到需要測(cè)量氧化穩(wěn)定性的溫度,在保持溫度不變的狀況下,通入氧氣。樣品的氧化會(huì)產(chǎn)生峰,可以通過改變通入氧氣的多少來(lái)模擬不同的氣體環(huán)境。
藥物加工
在藥物分析上,可以用差示掃描量熱法來(lái)判斷藥物的加工條件,比如若藥物要求在無(wú)定形形態(tài)下加工,就需要先作DSC曲線,確定結(jié)晶溫度,然后在結(jié)晶溫度以下加工。
共聚物與共混物的區(qū)分
DSC是區(qū)分共聚物和共混物的重要工具。對(duì)于兩種不能相容的聚合物,可以通過機(jī)械力形成共混物,一般具有兩個(gè)玻璃化轉(zhuǎn)變溫度。
與差熱分析(DTA)的比較
與保持樣品和參比物溫度一致測(cè)量熱流的差示掃描量熱法不同,差熱分析是保持熱流速率一致,測(cè)量樣品和參比物的溫度差。兩者相比,差示掃描量熱法的優(yōu)點(diǎn)是可以得到較好的定量數(shù)據(jù),缺點(diǎn)是溫度較高時(shí)基線會(huì)變壞,無(wú)法繼續(xù)測(cè)量。今日的大多數(shù)差熱分析的生產(chǎn)廠家比如已經(jīng)不再生產(chǎn)單獨(dú)的DSC或DTA設(shè)備,而是生產(chǎn)包括熱重分析、差示掃描量熱法和差熱分析的集成儀器,可以同時(shí)給出待測(cè)樣品的質(zhì)量、樣品與參照物間熱流速率、樣品與參比物間溫差與溫度或時(shí)間的關(guān)系曲線,十分方便快捷。
參見
玻璃化轉(zhuǎn)變溫度
熱重分析
差熱分析
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